PENGARUH KONFORMASI TRANSISI POLIEUGENOL TERHADAP BAND GAP SEMIKONDUKTOR Ni, Cu, Zn BERDASARKAN HASIL PENGUKURAN SPEKTROFOTOMETER UV-VIS

Perkembangan teknologi material semikonduktor memerlukan pengendalian nilai
band gap untuk meningkatkan kinerja berbagai perangkat elektronik dan
optoelektronik. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh konformasi
transisi polieugenol terhadap nilai band gap semikonduktor Ni, Cu, dan Zn serta
menganalisis stabilitas elektroniknya. Sampel berupa lapisan film logam pada kaca
preparat dikarakterisasi menggunakan spektrofotometer UV-Vis pada panjang
gelombang 250–500 nm, dan nilai band gap ditentukan melalui metode plot Tauc
berdasarkan fungsi Kubelka-Munk dari data reflektansi. Hasil penelitian
menunjukkan bahwa sebelum penambahan konformasi transisi polieugenol, nilai
band gap Ni, Cu, dan Zn berturut-turut adalah 3,99 eV, 3,94 eV, dan 3,91 eV.
Setelah penambahan konformasi transisi polieugenol, nilai tersebut menurun
menjadi 3,79 eV (Ni), 3,42 eV (Cu), dan 3,87 eV (Zn). Penurunan terbesar terjadi
pada Cu sebesar 0,52 eV. Disimpulkan bahwa konformasi transisi polieugenol
mampu memodifikasi struktur elektronik material dan urutan stabilitas elektronik
adalah Zn > Ni > Cu.
Kata kunci: polieugenol, band gap, semikonduktor, UV-Vis, plot Tauc